Ещё

Электронные клоны: российские ученые нашли новый способ диагностики техники 

Электронные клоны: российские ученые нашли новый способ диагностики техники
Фото: РИА Новости
, 29 окт — РИА Новости. Ученые Сибирского федерального университета (СФУ) предложили использовать «электронных клонов» для online оценки состояния техники и представили соответствующую модель нейрокомпьютерной диагностики, сообщила РИА Новости пресс-служба университета.
Когда-то для контроля над состоянием техники было достаточно простого осмотра. Сейчас эта задача перепоручена самой технике. Например, компьютерам, которые с помощью искусственных нейросетей (ИНС) способны решать целый комплекс задач по неразрушающему контролю и online диагностике.
Ученые СФУ предложили свой подход с опорой на разработку и обучение ИНС, а также моделирование контролируемого изделия на основе множества «паттернов» (тестовых примеров) реакции наблюдаемой системы — например, по изменению напряженного состояния или нагрева изделия.
"ИНС и моделирование позволяют создать электронных клонов изделия (или элемента конструкции) с чтением любой информации о состоянии контролируемого объекта в режиме online", — сообщили РИА Новости профессора Института информационных и космических технологий СФУ Владимир Кошур и Сергей Ченцов.
По их проекту, клон может быть настроен на пассивный или активный режим работы. В пассивном режиме он только отражает состояние физического объекта, не вмешиваясь в его работу, в активном — клон, «почувствовав боль», генерирует управление доступными ему параметрами физического объекта с целью «уменьшения боли» или её устранения.
"В активном режиме работы это новая интеллектуальная система, выполняющая основные функции и стремящаяся максимально сохранить «жизнеспособность» адаптивного подстраивающегося технического устройства", — рассказал Владимир Кошур.
По его словам, настройка нейросетевых блоков ведется на принципах минимизации контролируемой ошибки выхода нейросетевой системы и принятого ответа паттерна. Особенно важно найти глобальный минимум суммарной ошибки — оптимальные параметры, которые являются наилучшими для принятой модели.
Результаты ученых СФУ были представлены на XX Международной научно-технической конференции «Нейроинформатика-2018», прошедшей в Национальным исследовательском ядерном университете (Москва). На данный момент они продолжают исследовать адаптивные алгоритмы оптимизации нейросетевого управления.
Видео дня. Бузова рассказала, как мыла полы и сдавала бутылки
Комментарии
Читайте также
Новости партнеров
Больше видео