Войти в почту

В Минздраве рассказали, как уберечься от меланомы

МОСКВА, 21 мая. /ТАСС/. Основными факторами угрозы развития меланомы кожи являются ультрафиолетовое излучение, генетическая предрасположенность и перенесенные в детстве солнечные ожоги. Об этом рассказал врач-онколог, руководитель рабочей группы по диагностике и лечению меланомы кожи головы и шеи Национального медицинского центра радиологии Минздрава РФ Андрей Поляков. С наступлением лета и солнечной погоды следует принимать во внимание опасность, которую представляет ультрафиолетовое излучение. "Очень важно соблюдать часы нахождения на солнце – это должно быть желательно до 11 утра и не раньше 16:00", - сказал врач. По его словам, одежда должна быть из хорошей хлопковой, льняной ткани, желательно белого цвета, защищающая руки и ноги. Важно предусмотреть и правильный головной убор: с защитой шеи и ушей, чтобы предотвращать прямое попадание солнца на кожные покровы. "Такие не очень сложные меры позволяют серьезно снизить заболеваемость меланомой кожи", - отметил Поляков. Он сообщил, что ультрафиолетовое излучение, которое влияет напрямую на меланоциты, расположенные в коже, приводит к развитию новообразования. "Меланома кожи может возникнуть в любом возрасте. По моему личному опыту, это могут быть детки 7 лет, 14 лет, 11 лет. Это связано в том числе с нашим фенотипом и географическим расположением нашей страны", - рассказал Поляков. Среди факторов риска наряду с ультрафиолетом он также назвал генетическую предрасположенность и перенесенные в детстве солнечные ожоги. Если у родственников первой и второй линий была меланома, если есть ряд мутаций генов, то стоит регулярно обследовать кожные покровы. "Нужно прежде всего обращать внимание на пигментные невусы, то есть родинки. И обращать внимание на их изменение - рост, цвет, на появление нового образования, на изменение существующего - раздражение, кровоточивость", - посоветовал врач. Он также предостерег от удаления новообразований на коже в салоне красоты, поскольку "здесь возможен ряд диагностических ошибок".